产品寿命可靠性试验MTBF计算规范
冷热冲击试验箱产品规格：
SET-A3表示冲击温度-40℃～+150℃/ A4表示冲击温度-55℃～+150℃/A5.表示冲击温度-65℃～+150℃
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型号 |
SET-A |
SET-B |
SET-C |
SET-D |
SET-G |
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内部尺寸 (W x D x H cm) |
40×35×35 |
50×50×40 |
60×50×50 |
70×60×60 |
80×70×60 |
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外部尺寸 (W x D x H cm) |
140×165×180 |
150×190×185 |
160×190×185 |
170×240×195 |
180×260×200 |
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结构 |
三箱式（预冷箱）（预热箱）（测试箱） |
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温度恢复时间 |
小于5分钟（出风口测量） |
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温度均匀度 |
≤2℃ |
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温度波动度 |
≤±0.5℃，按GB/T5170-1996表示 |
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温度偏差 |
±2℃ |
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测试方法 |
三箱法标准//两箱法标准 |
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冷冻系统 |
机械压缩二元式 复叠制冷方式 |
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温度范围 |
预热温度 |
+50～+200℃ |
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高温暴露 |
+50～+150℃ |
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预冷温度 |
R.T～-75℃ |
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低温暴露 |
-40℃～0℃/ -55℃～0℃/ -65℃～0℃ |
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控制器 |
中文彩色触摸屏+ PLC控制器（控制软件自行开发） |
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控制方式 |
靠积分饱和PID，模糊算法 平衡式调温P.I.D + P.W.M + S.S.R |
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标准配置 |
附照明玻璃窗口1套、试品架2个、测试引线孔1个 |
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冷却方式 |
水冷（水温7℃～28℃，水压0.1～0.3Mpa），以便确保降温性能 |
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**保护 |
漏电、短路、超温、电机过热、压缩机超压、超载、过电流保护 |
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电源电压 |
AC380V 50Hz三相四线+接地线 |
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一、目的：
明确元器件及产品在进行可靠性寿命试验时选用标准的试验条件、测试方法
二、范围：
适用于公司内所有的元器件在进行样品承认、产品开发设计成熟度/产品成熟度（DMT/PMT）验证期间的可靠性测试及风险评估、常规性ORT例行试验
三、职责：
DQA部门为本文件之权责单位，责权主管负责本档之管制，协同开发、实验室进行试验，并确保供应商提交的元器件、开发设计产品满足本文件之条件并提供相关的报告。
四、内容：
MTBF:平均无故障时间
英文全称:Mean Time Between Failure
定义:衡量一个产品（尤其是电器产品）的可靠性指标,单位为“小时”.它反映了产品的时间质量,是体现产品在规定时间内保持功能的一种能力.具体来说,是指相邻两次故障之间的平均工作时间，也称为平均故障间隔,它仅适用于可维修产品,同时也规定产品在总的使用阶段累计工作时间与故障次数的比值为MTBF
MTBF测试原理
1.加速寿命试验(Accelerated Life Testing)
1.1执行寿命试验的目的在于评估产品在既定环境下之使用寿命.
1.2 常規试验耗時较长,且需投入大量的**,而产品可靠性资讯又不能及时获得并加以改善.
1.3 可在实验室时以加速寿命试验的方法,在可接受的试验时间里评估产品的使用寿命.
1.4 是在物理与时间基础上,加速产品的劣化肇因,以较短的时间试验来推定产品在正常使用状态的寿命或失效率.但基本条件是不能破坏原有设计特性.
1.5 一般情況下, 加速寿命试验考虑的三个要素是环境应力,试验样本数和试验时间.
1.6 一般电子和工控业的零件可靠性模式及加速模式几乎都可以从美軍规范或相关标准查得,也可自行试验分析,获得其数学经验公式.
1.7 如果溫度是产品的加速因素,則可采用阿氏模型(Arrhenius Model),此模式经常使用.
1.8 引进溫度以外的应力,如湿度,电压,机械应力等,則为爱玲模型(Eyring Model),此种模式适用的产品包括电灯,液晶显示元件,电容器等.
1.9反乘冪法則(Inverse Power Law)适用于金属和非金属材料,如轴承和电子装备等.
1.10 复合模式(Combination Model)适用于同時考虑溫度与电压做为环境应力的电子材料(如电容如下式为电解电容器寿命计算公式)
1.11 一般情況下,主动电子零件完全适用阿氏模型,而电子和工控类成品也可适用阿氏模型,原因是成品灯的失效模式是由大部分主动式电子零件所构成.因此,阿氏模型广泛应用于电子,工控产品行业。
2.加速因子
R:反应速度speed of reaction
A:溫度常数a unknown non-thermal constant
EA:活化能activation energy (eV)
K:Boltzmann常数,等地8.623*10-5 eV/0K.
T:为优良溫度(Kelvin)
2.1 加速因子原理：加速因子即为产品在使用条件下的寿命(Luse)和高測试应力条件下(Laccelerated)的寿命。
如果产品寿命适用于阿氏模型,则其加速因子為:
AF=e[Ea/K×(1/Ts-1/Tu)]
Ts:室溫+常数273
Tu:高溫+常数273
K: :Boltzmann常数,等地8.623*10-5 eV/0K.
3.加速因子中活化能Ea的计算
3.1 一般电子产品在早夭期失效之Ea为0.2~0.6Ev,正常有用期失效之Ea趋近于1.0Ev;衰老期失效之Ea大于1.0Ev.
3.2 根据HP 可靠度工程部(CRE)的測试規范,Ea是机台所有零件Ea的平均值.如果新机种的Ea无法计算,可以將Ea设为0.67Ev,做常数处理.
3.3如按机台所有零件Ea的平均值来计算,则可按以下例证参考
4.MTBF推算方法
4.1. 由MTBF定义可知,规定产品在总的使用阶段累计工作时间与故障次数的比值为MTBF, 指数(Exponential)分布是可靠度统计分析中使用普遍的机率分布.指数分布之MTBF数值为失效率λ的倒数,故一旦知道λ值,即可由可靠度函数估算产品的可靠度.
MTBF= 总运行时间Total Operating(Hrs)/总失效次数Total Failures
MTBF的估計值符合卡方分配原理, 其語法為:
T= 总时间Total Hours
r=失效总数Number of failures
Φ=信用等级Confidence interval
5.DMTBF計算
DMTBF:平均无故障时间验证
英文全称:Demonstration Mean time Between failures
计算方法:以温度为加速寿命试验且采用阿氏加速寿命模式
计算公式:(实际使用中,如需要可在分子上乘上24Hrs以方便计算时数)
Duration =（MTBFspec* GEMfactor）/(DC*Sample size*Afpowr*AF)
Duration:持续测试时间
MTBFspec:平均无故障时间
GEMfactor: General Exponential Model综合指数
DC: Duty cycle占空比
Sample size:样本数
Afpower:加速系数
AF:加速因子
5.1. Duration:持续测试时间，即一个单位或几个单位的样品在进行寿命试验时总的需要測試的时间
5.2. GEMfactor: General Exponential Model綜合指数，此指数一般取常数,其取值标准为按照Confidence Level信心水准进行取值,常用的值为80%信心水准取3.22;而90%信心水准時取2.3026.
5.3. DC: Duty cycle占空比，即在试验进行开关运行过程中,运行时间占总时间的百分比.(如45min ON/15min OFF則其DC值即為:45min/(45min+15min)=0.75
4. Sample size:样本数，根据实际狀況确认的做寿命试验的样品数
5. MTBFSpec:平均无故障时间，实验品規格书上描述的MTBF时间数
6. AFpower:加速系数，即在实验品进行开关运行過程中,1小時時間ON和OFF时间之和的比值,如: 实验品选择25min ON/5min OFF則Afpower值为:AFpower=60min/(25+5)min=2
7. AF:加速因子,产品在使用条件下的寿命(Luse)和高測試应力条件下(Laccelerated)的寿命的比值
